試驗分為型式試驗（也可以稱為確認(rèn)試驗）和檢查試驗（也可稱為例行試驗或出廠試驗）兩種，新設(shè)計電機或新工藝方案必須通過型式試驗驗證。檢查試驗不同，有兩大特點：1）逐臺試驗，2）單機的電機生產(chǎn)廠檢查試驗數(shù)據(jù)。

當(dāng)出廠試驗數(shù)據(jù)超出標(biāo)準(zhǔn)時，應(yīng)對其進行分析，找出產(chǎn)生的原因并設(shè)法加以解決。Ms.參將出廠試驗時出現(xiàn)的異常表象及其原因進行歸納并分享。

通電后不起動

（1）配電設(shè)備中有兩相電路未接通。問題一般發(fā)生在開關(guān)觸點上。

（2）電機內(nèi)有兩相電路未接通。問題一般發(fā)生在接線部位。

通電后緩慢轉(zhuǎn)動并發(fā)出“嗡嗡”聲

（1）配電設(shè)備中有一相電路未接通或接觸不實。間題一般發(fā)生在熔斷器、開關(guān)觸點或?qū)Ь€接點處。例如熔斷器的熔絲熔斷、接觸器或空氣開關(guān)三相觸電接觸壓力不均衡、導(dǎo)線連接點松動或氧化等。

（2）電機內(nèi)有一相電路未接通。問題一般發(fā)生在接線部位。如連接片未壓緊、引出線與接線柱之間墊有絕緣套管等絕緣物質(zhì)、電機內(nèi)部接線漏接或結(jié)點松動、一相繞組有斷路故障等。

（3）繞組內(nèi)有嚴(yán)重的匝間、相間短路或?qū)Φ囟搪贰?/p>

（4）有一相繞組的頭尾交叉接反或繞組內(nèi)部有接反的線圈。

（5）定、轉(zhuǎn)子嚴(yán)重相擦（俗稱“掃膛”）。

（6）電源電壓過低。

三相電阻不平衡度較大

（1）三相繞組匝數(shù)不相等。

（2）電阻較小的一相繞組有嚴(yán)重的匝間短路故障。

（3）多股并繞的繞組，在連接點有的線股未連接好（漏接或漏焊）。

（4）有較嚴(yán)重的相間短路故障。

三相電阻平衡但都較大或較小

●三相電阻平衡但都較大原因。

（1）匝數(shù)多于正常值。

（2）各相繞組本應(yīng)并聯(lián)后引出但錯接成了串聯(lián)引出或并聯(lián)支路數(shù)少于正常值。

（3）端部過長。

（4）所用電磁線的電阻率較大或線徑小于標(biāo)準(zhǔn)值。

●三相電阻平衡但都較小的原因。三相電阻平衡但都較小的原因與電阻較大的各項原因相反。

空載電流三相不平衡度超差

（1）同三相電阻不平衡度較大的原因。

（2）磁路嚴(yán)重不均勻。其中包括；定、轉(zhuǎn)子之間的氣隙嚴(yán)重不均；鐵心內(nèi)外圓嚴(yán)重不同心；鐵心各部位導(dǎo)磁能力嚴(yán)重不勻衡等。

（3）繞組有對地短路故障，個別線圈有頭尾反接現(xiàn)象。

空載電流較大或較小

●空載電流較大的原因。

（1）定子繞組匝數(shù)少于正常值。

（2）定、轉(zhuǎn)子之間的氣隙較大。

（3）鐵心硅鋼片質(zhì)量較差。

（4）鐵心長度不足或疊壓不實造成有效長度不足。

（5）因疊壓時壓力過大，將鐵心硅鋼片的絕緣層壓破或原絕緣層的絕緣性能就達不到要求。

（6）繞組接線有錯誤、并聯(lián)支路數(shù)多于設(shè)計值。

（7）額定頻率為60Hz的電機通入了50Hz的交流電。

（8）電源電壓高于額定值。在額定電壓附近（特別是高于額定電壓時），空載電流與電壓的平方（甚至于3次方以上）成正比，所以空載電流的增加將遠(yuǎn)大于電壓的增加。

●空載電流較小的原因?？蛰d電流較小的原因與較大的各項原因大體相反。不同點在于電流減小的幅度將小于因上述原因使空載電流增加的幅度。

堵轉(zhuǎn)電流三相不平衡度超差

（1）同定子三相電阻和空載電流不平衡的原因。

（2）轉(zhuǎn)子有嚴(yán)重的細(xì)條或斷條現(xiàn)象。

堵轉(zhuǎn)電流較大或較小

●堵轉(zhuǎn)電流較大的原因。

（1）同空載電流較大的所有原因。

（2）轉(zhuǎn)子鑄鋁的電阻率小于設(shè)計要求，即鋁的成分太純。

（3）用錯轉(zhuǎn)子，并且所用的轉(zhuǎn)子電阻小于應(yīng)用的轉(zhuǎn)子。

●堵轉(zhuǎn)電流較小的原因。堵轉(zhuǎn)電流較小的原因與較大的原因大體相反。

空載損耗較大

（1）因裝配不當(dāng)造成轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)動不靈活，或軸承質(zhì)量不佳、軸承內(nèi)加的潤滑脂過多等原因，使機械摩擦損耗過大。

（2）錯用了大風(fēng)扇或扇葉較多的風(fēng)扇。

（3）鐵心硅鋼片質(zhì)量較差。

（4）鐵心長度不足或疊壓不實造成有效長度不足。

（5）因疊壓時壓力過大，將鐵心硅鋼片的絕緣層壓破或原絕緣層的絕緣性能就未達到要求。

堵轉(zhuǎn)損耗較大或較小

堵轉(zhuǎn)損耗較大或較小的原因與堵轉(zhuǎn)電流較大或較小的原因基本對應(yīng)相同。