Intel在化合物半導體晶體管的研究取得里程碑式突破
Intel近日宣布在化合物半導體晶體管的研究中取得了里程碑式的重大突破,通過集成高K柵極獲得了更快的晶體管切換速度,消耗能量卻更少。Intel一直在研究將現(xiàn)在普遍適用的晶體管硅通道替換成某種化合物半導體材料,比如砷化鎵銦(InGaAs)。目前,此類晶體管使用的是沒有柵極介質的肖特基柵極(Schottky gate),柵極漏電現(xiàn)象非常嚴重。
Intel現(xiàn)在為這種所謂的量子阱場效應晶體管(QWFET)加入了一個高K柵極介質,并且已經在硅晶圓基片上制造了一個原型設備,證明新技術可以和現(xiàn)有硅制造工藝相結合。
試驗證實,短通道設備加入高K柵極介質后的柵極漏電電流減少到了只有原來的千分之一,同時電氧化物的厚度也減少了33%,從而可以獲得更快的切換速度,最終能夠大大改善芯片性能。
更多內容請點擊
中傳動網版權與免責聲明:
凡本網注明[來源:中國傳動網]的所有文字、圖片、音視和視頻文件,版權均為中國傳動網(www.wangxinlc.cn)獨家所有。如需轉載請與0755-82949061聯(lián)系。任何媒體、網站或個人轉載使用時須注明來源“中國傳動網”,違反者本網將追究其法律責任。
本網轉載并注明其他來源的稿件,均來自互聯(lián)網或業(yè)內投稿人士,版權屬于原版權人。轉載請保留稿件來源及作者,禁止擅自篡改,違者自負版權法律責任。
如涉及作品內容、版權等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內與本網聯(lián)系,否則視為放棄相關權利。
下一篇:
?
電動機伺服驅動系統(tǒng)伴隨著現(xiàn)代工業(yè)的快速發(fā)展?
永磁同步電動機伺服系統(tǒng)基本結構PWM調制技術及死區(qū)補償技術發(fā)展現(xiàn)狀IGBT等器件的死區(qū)是逆變器的非線性原因之一。