電子設(shè)計自動化技術(shù)的領(lǐng)導(dǎo)廠商MentorGraphics近日發(fā)布一份題為《汽車如何推動新的可測性設(shè)計(DFT)技術(shù)》的研究報告。中文版的報告全文可在MentorGraphics的官方網(wǎng)站閱讀和下載：http://mentorg.com.cn/aboutus/view.php?id=256。

背景介紹

隨著人們對安全關(guān)鍵應(yīng)用設(shè)備，尤其是汽車IC（集成電路），提出了新的需求，DFT（可測性設(shè)計）技術(shù)又再次受到重視。越來越多的處理器被運(yùn)用于汽車的剎車系統(tǒng)、發(fā)動機(jī)控制、平視顯示器、導(dǎo)航系統(tǒng)和圖像傳感器等等。這些芯片必須滿足非常高的質(zhì)量和可靠性標(biāo)準(zhǔn)，所以芯片制造商也必須進(jìn)行高水平的生產(chǎn)測試和系統(tǒng)內(nèi)部測試。不僅如此，他們還必須在盡可能提升測試水平的同時，確保測試時間和成本不會增加。

全文要點與大綱如下：

幾種芯片測試方法

如今有兩種測試方法被眾多安全關(guān)鍵設(shè)備開發(fā)商迅速采納--單元識別(Cell-Aware)自動測試向量生成(ATPG)法和ATPG/邏輯內(nèi)建自測試(LBIST)綜合運(yùn)用法。單元識別測試法可實現(xiàn)每百萬缺陷數(shù)(DPM)為零的目標(biāo)。綜合測試法則通過將ATPG和LBIST邏輯電路測試法相結(jié)合來提高測試質(zhì)量和效率。

事實證明，單元識別ATPG測試法是唯一可以發(fā)現(xiàn)傳統(tǒng)方法檢測不出的缺陷的方法。它可以發(fā)現(xiàn)一套完整的針對固定故障、節(jié)點跳變和時延缺陷的測試方法發(fā)現(xiàn)不了的缺陷，因為這種方法首先就對標(biāo)準(zhǔn)單元進(jìn)行物理布局時可能出現(xiàn)的實際缺陷進(jìn)行模擬。在新技術(shù)的改進(jìn)下，單元識別測試法中的測試向量大小得以縮小，但整個測試向量仍大于傳統(tǒng)的測試方法產(chǎn)生的測試向量，因此要進(jìn)行嵌入式壓縮。許多公司因為采用單元識別測試法而收效顯著。部分成效的概述請見圖1。

圖1：截至2013年12月來自使用單元識別測試法的公司的硅結(jié)果。安森美半導(dǎo)體(OnSemiconductor)結(jié)果在2013年ETS上進(jìn)行了發(fā)布；AMD結(jié)果在2012年ITS上進(jìn)行了發(fā)布。

越來越多的客戶在設(shè)計相同的電路時同時采用嵌入式壓縮和LBIST測試法。由于這兩種技術(shù)能夠以類似的方式運(yùn)用掃描鏈，因此可以將兩者整合成可共享的統(tǒng)一邏輯，從而幫助客戶更有效地運(yùn)用這種方法。綜合測試邏輯架構(gòu)請見圖2。

圖2：混合壓縮邏輯架構(gòu)和邏輯內(nèi)建自測試共享大部分解壓單元/LFSR和壓縮單元/MSIR邏輯。

嵌入式壓縮解壓單元在設(shè)計上也可整合進(jìn)線性反饋移位寄存器(LFSR)，為邏輯內(nèi)建自測試帶來偽隨機(jī)模式。邏輯內(nèi)建自測試和嵌入式壓縮邏輯都可通過相移位器為掃描鏈提供數(shù)據(jù)，這樣邏輯得以完全共享。掃描鏈結(jié)果通過嵌入式壓縮擠壓到一起。該邏輯主要與邏輯內(nèi)建自測試混合使用，減少進(jìn)入一個簽名計算器的掃描鏈結(jié)果數(shù)量。與單獨進(jìn)行嵌入式壓縮和邏輯內(nèi)建自測試相比，該共享邏輯可讓控制器尺寸縮小20%至30%。

混合測試法的優(yōu)點

混合使用嵌入式壓縮和邏輯內(nèi)建自測試的一大好處便是雙方互補(bǔ)。例如，嵌入式壓縮可實現(xiàn)非常高品質(zhì)的生產(chǎn)測試。這意味著您需要較少的邏輯內(nèi)建自測試點就可以提高隨機(jī)抵抗性邏輯的可測性，這可縮小邏輯內(nèi)建自測試點的面積。相反地，X-bounding以及任何為邏輯內(nèi)建自測試增加的測試點都可提高電路的可測性，并改善嵌入式壓縮覆蓋和模式計數(shù)結(jié)果。

汽車電子是半導(dǎo)體行業(yè)增長最迅速的領(lǐng)域之一，這些安全關(guān)鍵型設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)正推動新DFT技術(shù)的出現(xiàn)。嵌入式壓縮的發(fā)明是重要的測試進(jìn)步。

報告作者簡介

RonPress是明導(dǎo)硅測試解決方案產(chǎn)品的技術(shù)營銷經(jīng)理。他在測試和DFT（可測性設(shè)計）行業(yè)有著25年的經(jīng)驗，曾多次出席全球各地的DFT和測試研討會。他發(fā)表了數(shù)十篇與測試相關(guān)的論文，是國際測試會議(ITC)指導(dǎo)委員會的成員、IEEE計算機(jī)學(xué)會(IEEEComputerSociety)的GoldenCore成員以及IEEE的高級會員。Press擁有多項減少引腳數(shù)測試和無毛刺的自由時鐘切換的專利，并正在申請3DDFT專利。

關(guān)于MentorGraphics

MentorGraphics公司是電子硬件和軟件設(shè)計解決方案(EDA)的全球領(lǐng)導(dǎo)者，為世界上最成功的通信、半導(dǎo)體，計算機(jī)，消費(fèi)電子，汽車電子和國防軍工公司提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品、咨詢服務(wù)和支持,可加快客戶電子及機(jī)械產(chǎn)品的研發(fā)速度，提高產(chǎn)品質(zhì)量，增加成本效益。工程師可借助公司不斷推出的新產(chǎn)品及解決方案，應(yīng)對日趨復(fù)雜的電路板及芯片設(shè)計領(lǐng)域面臨的挑戰(zhàn)。MentorGraphics公司擁有業(yè)內(nèi)最為豐富的頂級產(chǎn)品線，提供完整的SOC/IC/FPGA/PCB/SI設(shè)計工具和服務(wù)，并且是唯一一家擁有嵌入式軟件解決方案的EDA公司。公司成立于1981年，目前有超過70家分公司分布世界各地。

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成立于1981年，總部位于俄勒岡州威爾遜維爾市

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已在中國上海、北京、深圳設(shè)立分支機(jī)構(gòu)

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消息來源MentorGraphics

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