時(shí)間:2018-04-19 17:14:17來(lái)源:網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)載
全球知名半導(dǎo)體制造商ROHM新開發(fā)出兼?zhèn)錁I(yè)界頂級(jí)低傳導(dǎo)損耗※1和高速開關(guān)特性的650V耐壓IGBT※2“RGTV系列(短路耐受能力※3保持版)”和“RGW系列(高速開關(guān)版)”,共21種機(jī)型。這些產(chǎn)品非常適用于UPS(不間斷電源)、焊接機(jī)及功率控制板工業(yè)設(shè)備、空調(diào)、IH(感應(yīng)加熱)等消費(fèi)電子產(chǎn)品的通用變頻器及轉(zhuǎn)換器的功率轉(zhuǎn)換。
此次開發(fā)的新系列產(chǎn)品采用薄晶圓技術(shù)及ROHM獨(dú)有結(jié)構(gòu),在具有權(quán)衡關(guān)系的低導(dǎo)通損耗和高速開關(guān)特性方面,獲得了業(yè)界頂級(jí)的性能。例如,在交錯(cuò)式PFC電路中使用時(shí),與以往產(chǎn)品相比,輕負(fù)載時(shí)效率提升1.2%,重負(fù)載時(shí)效率提升0.3%,有助于進(jìn)一步降低應(yīng)用的功耗。另外通過(guò)元器件內(nèi)部的優(yōu)化,實(shí)現(xiàn)了順暢的軟開關(guān)。與同等效率的普通產(chǎn)品相比,成功減少50%電壓過(guò)沖※4,從而減少以往需要用來(lái)對(duì)策的部件數(shù)量,可顯著減輕設(shè)計(jì)負(fù)擔(dān)。
本系列產(chǎn)品已于2017年10月開始出售樣品(樣品價(jià)格400日元~/個(gè):不含稅),并于2017年12月開始暫以月產(chǎn)10萬(wàn)個(gè)的規(guī)模開始量產(chǎn)。前期工序的生產(chǎn)基地為藍(lán)碧石半導(dǎo)體宮崎株式會(huì)社(日本宮崎縣),后期工序的生產(chǎn)基地為ROHMIntegratedSystems(Thailand)(泰國(guó))。
<背景>
近年來(lái),隨著IoT進(jìn)程帶來(lái)的數(shù)據(jù)量増加,對(duì)數(shù)據(jù)中心高性能化的要求越來(lái)越高。不僅服務(wù)器本身,包括進(jìn)行主體電源穩(wěn)定供給所不可欠缺的UPS等在內(nèi),系統(tǒng)整體的功耗量顯著增加,進(jìn)一步降低功耗已成為重要課題。
另外,在使用IGBT的大功率應(yīng)用中,為確保設(shè)備的可靠性,必須對(duì)可引發(fā)元器件故障或設(shè)備誤動(dòng)作的開關(guān)時(shí)的過(guò)沖采取措施,簡(jiǎn)化需求日益迫切。
<特點(diǎn)>
實(shí)現(xiàn)業(yè)界頂級(jí)的低傳導(dǎo)損耗和高速開關(guān)性能
在本新系列產(chǎn)品中,利用薄晶圓技術(shù)使晶圓厚度比以往產(chǎn)品再薄15%,另外采用ROHM獨(dú)創(chuàng)的單元微細(xì)化結(jié)構(gòu),成功實(shí)現(xiàn)業(yè)界頂級(jí)的低導(dǎo)通損耗(VCE(sat)=1.5V)和高速開關(guān)特性(tf=30~40ns)。
實(shí)現(xiàn)軟開關(guān),減輕設(shè)備的設(shè)計(jì)負(fù)擔(dān)
通過(guò)元器件內(nèi)部?jī)?yōu)化,實(shí)現(xiàn)了ON/OFF順暢切換的軟開關(guān)。由此,開關(guān)時(shí)產(chǎn)生的電壓過(guò)沖與普通產(chǎn)品相比減少了50%,可減少用來(lái)抑制過(guò)沖的外置柵極電阻和緩沖電路等部件數(shù)量。使用IGBT時(shí),應(yīng)用端不再需要以往需要的過(guò)沖對(duì)策,有利于減輕設(shè)計(jì)負(fù)擔(dān)。
<產(chǎn)品陣容>
產(chǎn)品陣容又新增了以“短路耐受能力保持2μs”為特點(diǎn)的RGTV系列和以“高速開關(guān)性能”為特點(diǎn)的RGW系列,能夠支持更廣泛的應(yīng)用。
RGTV系列(短路耐受能力保持版)
RGW系列(高速開關(guān)版)
<應(yīng)用>
工業(yè)設(shè)備(UPS(不間斷電源)、焊接機(jī)、功率控制板等)、空調(diào)、IH(感應(yīng)加熱)等
<術(shù)語(yǔ)解說(shuō)>
※1導(dǎo)通損耗
MOSFET和IGBT等晶體管因元器件結(jié)構(gòu)的緣故,在電流流動(dòng)時(shí)發(fā)生電壓下降。
導(dǎo)通損耗是因這種元器件的電壓下降而產(chǎn)生的損耗。
※2IGBT:InsulatedGateBipolarTransistor(絕緣柵雙極晶體管)
MOSFET的高速開關(guān)特性和雙極晶體管的低傳導(dǎo)損耗特性兼?zhèn)涞墓β示w管。
※3短路耐受能力
對(duì)引起元器件損壞的短路(電子電路的2點(diǎn)用低阻值的電阻器連接)
的耐受能力。
※4電壓過(guò)沖
開關(guān)ON/OFF時(shí)產(chǎn)生超出規(guī)定電壓值的電壓。
電壓值因過(guò)沖而暫時(shí)超出穩(wěn)態(tài)值,之后返回到接近穩(wěn)態(tài)值。
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