2011年4月——NI近日發(fā)布了《2011自動化測試技術展望》，就影響測試測量的技術與方法發(fā)表了研究結果。該報告所闡述的發(fā)展趨勢覆蓋了消費電子、汽車、半導體、航空航天、醫(yī)療設備和通信等眾多產(chǎn)業(yè)，幫助工程師和企業(yè)管理人員利用最新策略和最佳實踐案例，優(yōu)化測試組織架構。
《2011自動化測試技術展望》以學術和工業(yè)研究、網(wǎng)上論壇、問卷調(diào)查、商業(yè)咨詢、客戶反饋等多種形式廣泛進行調(diào)查，提出了下一代測試測量行業(yè)的發(fā)展趨勢，以應對該行業(yè)所存在的商業(yè)與技術挑戰(zhàn)。報告從四個方面進行了闡述：
-- 組織機構優(yōu)化：集成驗證與生產(chǎn)測試需要注意策略、流程、人力與技術上的改變。
-- 軟件系統(tǒng)：一個高度集成的軟件框架提供了一個靈活的系統(tǒng)架構，用于不斷升級增加測量功能，并縮短開發(fā)時間和測試時間。
-- 異質(zhì)計算結構：未來的測試系統(tǒng)將會需要不同的處理節(jié)點，來滿足更加嚴格的分析與處理要求。
--IP to the Pin：在設計與測試階段分享FPGA IP可顯著縮短設計驗證時間，并改善生產(chǎn)測試時間與測試覆蓋性能。
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