摘 要：本文通過(guò)分析光敏電阻生產(chǎn)環(huán)節(jié)中測(cè)試分檔工序的現(xiàn)狀，針對(duì)該環(huán)節(jié)目前主要靠手工分檔而帶來(lái)的分檔精度不高、一致性不好及生產(chǎn)效率低下的實(shí)際問(wèn)題，研制了一種基于USB總線接口技術(shù)的新型智能光敏電阻檢測(cè)裝置。硬件設(shè)計(jì)方面，用單片機(jī)AT89C52控制12位高速A/D轉(zhuǎn)換器AD574完成八路被檢光敏電阻亮電阻、暗電阻等參數(shù)的數(shù)據(jù)采集。通過(guò)由PDIUSBD12芯片構(gòu)成的USB數(shù)據(jù)傳輸模塊將采樣數(shù)據(jù)送到上位計(jì)算機(jī)。軟件設(shè)計(jì)方面，USB接口單片機(jī)程序中采用了Philips的USB51S函數(shù)庫(kù)來(lái)解釋USB數(shù)據(jù)傳輸協(xié)議。使用Windows DDK開(kāi)發(fā)了驅(qū)動(dòng)程序。上位機(jī)應(yīng)用程序利用PHILIPS公司提供的EasyD12庫(kù)和Visual Basic 2005來(lái)設(shè)計(jì)。 關(guān)鍵詞：光敏電阻、測(cè)試分檔、光照強(qiáng)度、USB、動(dòng)態(tài)連接庫(kù) 1引言 　　測(cè)試分檔是光敏電阻生產(chǎn)環(huán)節(jié)中后期的一個(gè)重要工序。因?yàn)椴煌瑧?yīng)用領(lǐng)域?qū)饷綦娮栌嘘P(guān)參數(shù)如亮電阻、暗電阻和γ值等的要求也不一樣，生產(chǎn)廠家必須能夠十分準(zhǔn)確地給出自己產(chǎn)品的上述參數(shù)值，以滿足用戶使用的具體要求。生產(chǎn)廠家根據(jù)用戶對(duì)亮電阻、暗電阻和γ值等參數(shù)的要求范圍，來(lái)為生產(chǎn)的光敏電阻分類(lèi)，這就是光敏電阻的測(cè)試分檔。 　　目前國(guó)內(nèi)廠家的測(cè)試分檔基本以手工操作為主，這樣的弊端是顯而易見(jiàn)的：光源的光照強(qiáng)度不能準(zhǔn)確控制，手工分檔速度很慢，人工讀數(shù)引入了較大誤差，測(cè)試數(shù)據(jù)只能人工記錄保存，這就大大地影響了分檔的精度和產(chǎn)品的一致性。本文借助計(jì)算機(jī)強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理與存儲(chǔ)功能，采用數(shù)據(jù)傳輸率很高且使用方便的USB總線研究和設(shè)計(jì)了一種用于光敏電阻測(cè)試分檔的智能化檢測(cè)裝置。從根本上解決了手工分檔的一系列問(wèn)題：如光源光照強(qiáng)度的控制，人工讀數(shù)帶來(lái)的誤差，測(cè)試結(jié)果的保存等。 2智能光敏電阻檢測(cè)裝置的硬件設(shè)計(jì) 　　智能光敏電阻檢測(cè)裝置的研制涉及光源設(shè)計(jì)、超大范圍的電阻的自動(dòng)測(cè)量、數(shù)據(jù)的采集與處理、單片機(jī)和計(jì)算機(jī)的USB串行數(shù)據(jù)傳輸、分檔信號(hào)的顯示及控制等幾大部分。 　　設(shè)計(jì)總體框圖如圖1所示。其中AD574采集模塊在來(lái)自PC機(jī)命令的控制下完成8路光敏電阻亮電阻、暗電阻等參數(shù)的采集，采集數(shù)據(jù)由USB數(shù)據(jù)傳輸接口模塊傳送至PC計(jì)算機(jī)，由計(jì)算機(jī)完成參數(shù)的后續(xù)處理，算出對(duì)應(yīng)光敏電阻的γ值，隨后分檢顯示程序根據(jù)亮、暗電阻和γ值確定對(duì)應(yīng)光敏電阻應(yīng)屬哪一檔。最后由分檢顯示電路顯示分檔信息。 [align=center] 圖1智能光敏電阻檢測(cè)裝置設(shè)計(jì)總體框圖[/align] 　　2.1數(shù)據(jù)采集模塊 　　數(shù)據(jù)采集模塊由數(shù)據(jù)采集模塊單片機(jī)AT89C52、鎖存器74LS373、A/D芯片AD574、8路模擬開(kāi)關(guān)CD4051、光敏電阻測(cè)試電路、與USB數(shù)據(jù)傳輸接口模塊通信的IDC26接口（CN6）等部分組成。 　　AD574是美國(guó)AD 公司生產(chǎn)的12位高速逐次逼近型模數(shù)變換器。片內(nèi)自備時(shí)鐘基準(zhǔn)源，無(wú)需外接元器件就可獨(dú)立完成A/D轉(zhuǎn)換功能，它的轉(zhuǎn)換時(shí)間為15～35μs，轉(zhuǎn)換精度為0.05%，可以并行輸出12位，也可以分成8位和4位兩次輸出。數(shù)字量可直接采用雙極性模擬信號(hào)輸入，供電電源為±15V，邏輯電源為+5V。廣泛應(yīng)用在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中。 　　系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)在連接上主要考慮了三總線（控制總線、地址總線、數(shù)據(jù)總線）的連接。由于AD574輸出具有三態(tài)緩沖器，可直接與微機(jī)的總線接口，而無(wú)須附加邏輯接口電路。AD574片內(nèi)有時(shí)鐘，故無(wú)需外加時(shí)鐘信號(hào)。該電路采用單極性輸入方式，可對(duì)0～10V或0～20V 模擬信號(hào)進(jìn)行轉(zhuǎn)換，本裝置采用0～10V輸入。轉(zhuǎn)換結(jié)果的高8位從DB11～DB4輸出，低4位從DB3～DB0 輸出，并且直接和單片機(jī)的數(shù)據(jù)總線相連。 　　在光敏電阻測(cè)試電路中，模擬開(kāi)關(guān)4051對(duì)應(yīng)8路輸入，一次可測(cè)試8個(gè)光敏電阻，根據(jù)電路硬件連接，8路輸入地址分別為0xff18、0xff19、0xff1a、0xff1b、0xff1c、0xff1d、0xff1e、0xff1f。調(diào)用一次采樣函數(shù)ad574（），8路光敏電阻即被測(cè)試一遍。 　　測(cè)試系統(tǒng)中光照強(qiáng)度的調(diào)節(jié)由單片機(jī)的P1.1、P1.2和P1.3控制，P1.1、P1.2和P1.3分別控制100lx、10lx和0lx 的光源。P1.4接看門(mén)狗電路的輸入端WDI，不斷輸出脈沖信號(hào)進(jìn)行喂狗。 　　2.2數(shù)據(jù)采集模塊單片機(jī)和計(jì)算機(jī)的USB通信 　　本系統(tǒng)采用基于PDIUSBD12接口芯片的USB數(shù)據(jù)傳輸接口模塊[1，2]。用于連接數(shù)據(jù)采集模塊和PC計(jì)算機(jī)的USB數(shù)據(jù)傳輸接口模塊在整個(gè)系統(tǒng)中地位極其重要，也是本系統(tǒng)設(shè)計(jì)的重點(diǎn)和難點(diǎn)，這里開(kāi)發(fā)一個(gè)通用的USB數(shù)據(jù)傳輸接口模塊，該模塊主要由3個(gè)部分組成。 　　（1）USB總線接口部分，包括B類(lèi)USB連接線插座和PDIUSBD12接口芯片。 　?。?）微處理器及邏輯控制部分，包括AT89C52單片機(jī)及邏輯控制電路。 　?。?）雙端口數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)，包括雙端口RAM芯片CY7C136和一個(gè)IDC26封裝的8位并行數(shù)據(jù)接口插座CN3。 　　AT89C52單片機(jī)的外部中斷INT0用于USB接口芯片PDIUSBD12的中斷請(qǐng)求，外部中斷INT1用于雙端口RAM芯片CY7C136的左側(cè)信箱中斷請(qǐng)求，完成數(shù)據(jù)采集模塊單片機(jī)采集數(shù)據(jù)的上傳。 3智能光敏電阻檢測(cè)裝置的軟件設(shè)計(jì) 　　3.1下位機(jī)程序的開(kāi)發(fā) 　　數(shù)據(jù)采集模塊單片機(jī)和USB接口單片機(jī)程序均使用C語(yǔ)言編寫(xiě)[3]，增加了程序的可移植性。數(shù)據(jù)采集模塊通過(guò)USB通信模塊接收到相應(yīng)命令后，通過(guò)調(diào)整光照強(qiáng)度，調(diào)用數(shù)據(jù)采集程序，隨后把采集結(jié)果通過(guò)USB通信模塊上傳到PC計(jì)算機(jī)進(jìn)一步處理。下位機(jī)還可通過(guò)鍵盤(pán)顯示電路顯示出被檢光敏電阻的分檔信息，從而實(shí)現(xiàn)了光敏電阻的智能化檢測(cè)。數(shù)據(jù)采集程序的部分代碼如下： 　　unint ad574（uchar idata ＊x） //采樣結(jié)果放指針中的A/D采樣函數(shù) 　?。?uchar i; 　　uchar xdata ＊ad_adr; 　　ad_adr=&ADCOM0; 　　adhi=&ADHI0; 　　adlo=&ADLO0; 　　r=0; //產(chǎn)生CE=1 　　w=0; 　　for（i=0;i<8;i++） 　　｛ ＊ad_adr=0; //啟動(dòng)轉(zhuǎn)換 　　while（adbusy==1）; 　　x[2＊i]=adhi>>4; //存轉(zhuǎn)換結(jié)果高位 　　x[2＊i+1]=（（adhi<<4）+（adlo&0x0f））; //存轉(zhuǎn)換結(jié)果低位 　　ad_adr++; 　　adhi++; 　　adlo++; 　?。? 　?。? 　　3.2驅(qū)動(dòng)程序的開(kāi)發(fā) 　　USB設(shè)備驅(qū)動(dòng)程序在結(jié)構(gòu)上與其他類(lèi)型的設(shè)備驅(qū)動(dòng)程序基本相同，包括初始化、創(chuàng)建設(shè)備、卸載和刪除設(shè)備、即插即用處理、分發(fā)例程處理、電源管理、WMI等部分。驅(qū)動(dòng)程序主要例程如下： 　　（1）驅(qū)動(dòng)程序入口例程DriverEntry，該例程完成兩件事：把注冊(cè)表項(xiàng)復(fù)制到一個(gè)全局變量中;告訴系統(tǒng)哪些IRP由哪個(gè)例程處理。 　?。?）驅(qū)動(dòng)程序的初始化例程DataClt_AddDevice 　?。?）即插即用例程DataClt_DispatchPnp 　?。?）電源管理例程DataClt_DispatchPower 　　（5）數(shù)據(jù)讀寫(xiě)例程DataClt_DispatchReadWrite 　?。?）提交URB 例程DataClt_CallUSBD 　　3.3 上位機(jī)應(yīng)用程序的開(kāi)發(fā) 　　在Microsoft Visual Basic 2005環(huán)境下編寫(xiě)上位機(jī)應(yīng)用程序，上位機(jī)應(yīng)用程序使用EasyD12.dll API函數(shù)。智能光敏電阻檢測(cè)應(yīng)用程序中的檢測(cè)界面如圖2所示。檢測(cè)界面包括測(cè)100lx光照下光敏電阻的阻值、測(cè)10lx光照下光敏電阻的阻值、測(cè)0lx光照下光敏電阻的阻值、計(jì)算光敏電阻的γ值以及測(cè)試分檔等命令。每檢測(cè)一組8個(gè)電阻后，可以點(diǎn)擊“保存本次結(jié)果”，將本次檢測(cè)結(jié)果保存入數(shù)據(jù)庫(kù);點(diǎn)擊“結(jié)果送分檢電路”，可通過(guò)分檢電路顯示出對(duì)應(yīng)光敏電阻應(yīng)屬分檔;待檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)準(zhǔn)備好下一組待檢光敏電阻后，點(diǎn)擊“檢測(cè)下一組”，即可繼續(xù)檢測(cè);在檢測(cè)界面中，可隨時(shí)通過(guò)點(diǎn)擊“查看檢測(cè)記錄”進(jìn)入數(shù)據(jù)庫(kù)查看已經(jīng)檢測(cè)的光敏電阻的檢測(cè)信息。程序中將光敏電阻分為26檔，其中含 “廢品”檔。實(shí)際應(yīng)用中可根據(jù)情況進(jìn)行調(diào)整。 　　程序中由PC機(jī)通過(guò)D12的端點(diǎn)1向下位機(jī)發(fā)送命令，通過(guò)計(jì)算校驗(yàn)和保證命令傳輸?shù)恼_性，然后通過(guò)讀端口2得到返回的檢測(cè)結(jié)果數(shù)據(jù)，其中讀數(shù)據(jù)的長(zhǎng)度可通過(guò)對(duì)接收數(shù)據(jù)長(zhǎng)度變量nLen的賦值來(lái)改變， 本程序因每次僅檢測(cè)8個(gè)光敏電阻，每個(gè)電阻采樣值共12位，占2個(gè)字節(jié)，故令nLen= 16即可滿足要求，程序的編寫(xiě)具有通用性，可實(shí)現(xiàn)對(duì)任意長(zhǎng)度的采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取，因D12的端點(diǎn)2緩存僅為64字節(jié)，故需按每幀接收64個(gè)數(shù)據(jù)來(lái)多次讀?。╪FrameLen = 64），最后讀取一個(gè)小于64字節(jié)的剩余幀。 　　智能光敏電阻檢測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)界面如圖3所示，設(shè)計(jì)的字段有：100lx下電阻值、10lx下電阻值、0lx下電阻值、g值、應(yīng)屬分檔、測(cè)試時(shí)間。應(yīng)用程序中通過(guò)上述幾個(gè)控件實(shí)現(xiàn)與SQL Server數(shù)據(jù)庫(kù)的連接，在“檢測(cè)界面”中每按一次“保存本次結(jié)果”命令按鈕，即可將檢測(cè)結(jié)果追加到數(shù)據(jù)庫(kù)中，并在智能光敏電阻檢測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)界面中動(dòng)態(tài)顯示出來(lái)。在數(shù)據(jù)庫(kù)界面中，可通過(guò)相應(yīng)命令按鈕查看某段時(shí)間生產(chǎn)的一些指標(biāo)，如合格率、廢品率及某個(gè)檔位產(chǎn)品的數(shù)量等。 [align=center] 圖2 檢測(cè)界面[/align] 4結(jié)論 　　基于USB接口的智能光敏電阻檢測(cè)裝置硬件包括負(fù)責(zé)采集數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)采集模塊、負(fù)責(zé)傳輸采樣數(shù)據(jù)和傳輸上位機(jī)命令及最后分檔信息的USB接口通信模塊和負(fù)責(zé)處理采樣數(shù)據(jù)、存儲(chǔ)檢測(cè)結(jié)果的PC上位機(jī)等。軟件包括數(shù)據(jù)采集模塊中的上位機(jī)命令分析程序、采樣程序及與USB接口模塊的數(shù)據(jù)傳輸程序，USB接口模塊中的USB固件程序以及與數(shù)據(jù)采集模塊通信的數(shù)據(jù)傳輸程序，還有計(jì)算機(jī)端的應(yīng)用軟件設(shè)計(jì)等。整個(gè)裝置采用先進(jìn)的USB總線技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了較高的數(shù)據(jù)傳輸率，保證了較高的可靠性。 　　圖3智能光敏電阻檢測(cè)數(shù)據(jù)庫(kù)界面 參考文獻(xiàn)： 　　[1]Philips Semiconductors Company. 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