


NI推出首款基于PXI的源測(cè)量單元和業(yè)界最高密度的PXI開(kāi)關(guān)模塊
產(chǎn)品型號(hào)
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
公司名稱NI-美國(guó)國(guó)家儀器有限公司
地 址上海浦東張江集電港二期張東路1387號(hào)第45幢
企業(yè)信息
普通會(huì)員第20年
公司類型: 生產(chǎn)商
主運(yùn)營(yíng):測(cè)量和自動(dòng)化軟件、數(shù)據(jù)采集(DAQ)硬件、模塊化儀器...
所在地區(qū):上海市
注冊(cè)時(shí)間:2006-04-04
編者按: 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱NI)致力于為測(cè)試測(cè)量、自動(dòng)化和嵌入式應(yīng)用領(lǐng)域的工程師和科學(xué)家們帶來(lái)革命性的理念。2008 年2月,NI推出首款基于PXI的源測(cè)量單元和業(yè)界最高密度的PXI開(kāi)關(guān)模塊。 全新高精度直流產(chǎn)品把PXI平臺(tái)功能延伸至半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域 2008 年2月――美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)宣布正式發(fā)布其第一款基于PXI的源測(cè)量單元(source measure unit,SMU)和業(yè)界最高密度的PXI開(kāi)關(guān)模塊。這兩款產(chǎn)品將PXI平臺(tái)的應(yīng)用延伸至高精密度直流測(cè)試領(lǐng)域,如半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試及電子設(shè)備器件的驗(yàn)證。工程師們可以同時(shí)使用這兩款模塊在多管腳設(shè)備上掃描電壓和電流的特征參數(shù),相比傳統(tǒng)的方式,具有輕便小巧、性價(jià)比高的優(yōu)點(diǎn)。

NI PXI-4130源測(cè)量單元是一款可編程、靈活、高功率且適合高精度直流測(cè)試應(yīng)用的3U PXI模塊。其相互隔離的SMU通道,可提供包含4線遙感的四象限±20 V輸出。該通道在象限I和象限III中的源極功率高達(dá)40W,在象限II和象限IV中的漏極功率高達(dá)10W。NI PXI-4130電源測(cè)試單元還有一個(gè)額外的電壓、電流輸出/測(cè)試通道,并在一個(gè)單槽的PXI模塊上實(shí)現(xiàn)了電源功能。鑒于共有5個(gè)可電流范圍提供達(dá)1 nA的測(cè)量分辨率,因此PXI-4130非常適用于需要編程實(shí)現(xiàn)掃描源(電壓/電流)并且測(cè)試其參數(shù)的場(chǎng)合,比如在高精度的測(cè)試驗(yàn)證以及半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域,。 "很高興看到模擬技術(shù)的發(fā)展和基于FPGA架構(gòu)的應(yīng)用可以實(shí)現(xiàn)在如此之小的體積上發(fā)揮出卓越的性能" NI測(cè)量技術(shù)總監(jiān)Ken Reindel這樣說(shuō)道。 "NI PXI-4130源測(cè)量單元是一個(gè)在高精度、高功率和小體積特性上的典范,讓工程師可以在新的應(yīng)用領(lǐng)域享有PXI平臺(tái)帶來(lái)的種種優(yōu)勢(shì)" 。 NI PXI-2535和NI PXI-2536超高密度模塊可提供544交叉點(diǎn)——可在單槽、3U PXI模塊上實(shí)現(xiàn)最大的矩陣密度。NI PXI-2535和NI PXI-2536分別配置為4x136 1線式矩陣和8x68 1線式矩陣。兩款模塊都是建立在場(chǎng)效應(yīng)晶體管(field effect transistor,F(xiàn)ET)技術(shù)之上,該技術(shù)帶來(lái)諸多優(yōu)勢(shì),包括:無(wú)限機(jī)械壽命、無(wú)限同步連接以及高達(dá)50,000次/秒的切換速度。這些優(yōu)勢(shì)使這兩款產(chǎn)品非常適合在批量生產(chǎn)設(shè)備(如:半導(dǎo)體芯片和印刷電路板)的驗(yàn)證測(cè)試中來(lái)切換低功率的直流信號(hào)。兩款新產(chǎn)品與NI Switch Executive開(kāi)關(guān)管理軟件同時(shí)使用還能幫助工程師們實(shí)現(xiàn)的簡(jiǎn)化配置和代碼重用。 NI PXI-4130電源測(cè)試單元和兩款高密度開(kāi)關(guān)模塊豐富了現(xiàn)有的PXI儀器平臺(tái),并可幫助工程師們進(jìn)行半導(dǎo)體原件驗(yàn)證相關(guān)測(cè)試,包括高速數(shù)字設(shè)備、混合信號(hào)儀器及射頻設(shè)備。當(dāng)在一個(gè)PXI系統(tǒng)中同時(shí)使用這些設(shè)備,它們可以提供高度靈活的解決方案,無(wú)論是半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)和功能驗(yàn)證測(cè)試還是電子元件特征測(cè)試。這3款產(chǎn)品均對(duì)NI TestStand測(cè)試管理軟件、NI LabVIEW圖形化開(kāi)發(fā)環(huán)境、NI Signalexpress、NI LabWindows ™/CVI和NI Measurement Studio提供支持。 了解更多NI PXI平臺(tái)信息,請(qǐng)?jiān)L問(wèn):ni.com/china/pxi。

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