

非接觸式三維測量檢測系統(tǒng)
企業(yè)信息
非接觸式三維測量檢測系統(tǒng)基于雙目立體視覺原理,采用外差式多頻相移三維光學(xué)測量技術(shù),可測量幾毫米至幾十米的物體,精度可達0.01mm。與傳統(tǒng)的測量方式相比較,系統(tǒng)受環(huán)境影響小并且無機械行程限制,尤其適用于復(fù)雜的曲面物體。
系統(tǒng)可快速獲取物體表面的點云數(shù)據(jù),建立物體1:1:1的三維模型,實現(xiàn)產(chǎn)品的快速三維設(shè)計和尺寸提取。測量所得的數(shù)據(jù)可與標準產(chǎn)品數(shù)據(jù)或設(shè)計圖進行擬合對比,分型物體點線面的形位偏差,實現(xiàn)物體整體及局部檢測,輸出數(shù)據(jù)報告。
常規(guī)標準型
型號 |
XTOM-TC |
XTOM-ED-I |
XTOM-ED-II |
測量幅面(mm) |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
相機像素 |
2*130w |
2*130w |
4*230w |
測量精度(mm) |
0.04 |
0.025/0.03 |
0.025~0.03 |
采樣點距(mm) |
0.15/0.3 |
0.1/0.2 |
0.1~0.2 |
標準測距(mm) |
350/850 |
450/850 |
450/850 |
掃描時間(s) |
2~4 |
||
掃描光源 |
藍/白 |
||
拼接方式 |
標志點/特征/手動 |
高端工業(yè)型
型號 |
XTOM-ET-I |
XTOM-ET-II |
XTOM-ET-III |
測量幅面(mm) |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
800*600 |
相機像素 |
2*230w |
2*500w |
2*500w |
測量精度(mm) |
0.02/0.025 |
0.01/0.015 |
0.03 |
采樣點距(mm) |
0.1/0.2 |
0.08/0.15 |
0.3 |
標準測距(mm) |
450/850 |
450/850 |
1600 |
掃描時間(s) |
2~8 |
||
掃描光源 |
藍/白 |
||
拼接方式 |
標志點/特征/手動 |
備注:拍照式三維掃描儀抄數(shù)機CCD支持升級600萬/900萬,支持依據(jù)客戶需求定制。

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