產(chǎn)品頻道

產(chǎn)品介紹 對(duì)于電子設(shè)備，您是否常因圖紙資料不全而束手無策？您是否常因高昂的維修費(fèi)用而增添煩惱？——高能檢測儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。 高能檢測儀配合電腦使用，全部智能化。它利用電腦來彌補(bǔ)人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原理的情況下，對(duì)各種類型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測試，在線檢測元器件好壞，迅速檢測到電路板上故障元器件。 1、主要特點(diǎn)： 1） 先進(jìn)的測試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)能力，任何故障原因的電路板皆可修好； 2） 友好簡單的中文操作界面，不經(jīng)專業(yè)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專家； 3） 無需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)任何電路板皆可快速維修； 4） 40路數(shù)字電路測試功能，備有TTL、CMOS及中大規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫；40路/2路（ASA）V/I曲線分析測試功能； 5） 電路板測試存儲(chǔ)功能，被測板可與之比較； 6） 真正的總線動(dòng)態(tài)隔離信號(hào)，使IC測試更加準(zhǔn)確； 7） 全面電路網(wǎng)絡(luò)表提取，使您方便畫出相應(yīng)原理圖； 8） 全面存儲(chǔ)器測試，方便您對(duì)存儲(chǔ)器測試及在線讀??； 9） 簡單編程語言，使您自行擴(kuò)充庫成為現(xiàn)實(shí)； 10） 與進(jìn)口同類儀器比較，性價(jià)比更優(yōu)，操作更方便。 11） 軟件支持WINDOWS 98/2000/XP 2、工作原理: Analog Signature Analysis對(duì)元件每個(gè)管腳提供一個(gè)安全、低功率的掃描驅(qū)動(dòng)電壓信號(hào)，以便產(chǎn)生一個(gè)阻抗特性圖并在CRT上顯示，且可存儲(chǔ)，以備比對(duì)。所有測試都是在靜態(tài)下（不加電）執(zhí)行，所以不會(huì)傷害到元件。它不僅能快速掃描并存儲(chǔ)各類IC每個(gè)管腳V/I曲線圖形，并且對(duì)各類分立元件如：電阻、電容等同樣有效。 rcuit Testing它能把待測元件與PC資料庫內(nèi)相對(duì)應(yīng)的元件資料作邏輯功能測試比較，測試時(shí)可在CRT上顯示元件管腳連接狀態(tài)、元件輸入管腳的輸入波形，同時(shí)顯示相應(yīng)輸出管腳的實(shí)測波形及標(biāo)準(zhǔn)波形，以便判定IC邏輯功能好壞。此功能可快速測試IC好壞，也可測試分析，還可識(shí)別不明型號(hào)的IC 主要測試功能。 3、數(shù)字IC功能測試 本功能采用后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測試74系列、4000/4500邏輯IC、75系列接口IC等兩千余種集成電路。將測試儀上的5V外供電源通過隨機(jī)所帶電源鉤引到被測板，再把測試夾夾在被測IC上，輸入其型號(hào)，測試儀就在微機(jī)的控制下，自動(dòng)進(jìn)行測試，并將結(jié)果顯示出來。在這個(gè)過程中，測試儀首先檢查是否對(duì)被測板正確供電，然后檢查測試夾同被測IC是否接觸良好。一切正常，再檢查被測IC各管腳處于何種狀態(tài)（比如電源，地、輸入/輸出等）以及哪些管腳短接在一起，據(jù)此求出相應(yīng)的測試碼，送到被測IC輸入端，再從IC輸出端取回對(duì)測試碼的響應(yīng)。將取回的實(shí)測響應(yīng)和計(jì)算出的預(yù)期響應(yīng)相比較，就能發(fā)現(xiàn)故障。（后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)：后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)由美國施倫伯杰公司的Factron在68年提出。早在這類在線維修測試儀出現(xiàn)之前，就在生產(chǎn)用大型針床式電路板測試儀上得到廣泛應(yīng)用。該技術(shù)利用了半導(dǎo)體器件允許瞬態(tài)過載的特性，向被測IC的前級(jí)輸出灌進(jìn)瞬間大電流，強(qiáng)迫其按測試需要由高變低或由低變高。達(dá)到被測IC輸入在線施加測試碼的目的。） 5、快速測試 故障電路板上有許多中小規(guī)模IC，究竟哪些IC是有問題的，可利用快速測試迅速進(jìn)行篩選。此功能僅給出IC是否通過測試的結(jié)果，不提供任何故障診斷信息。下一步用診斷測試對(duì)未通過測試的IC作進(jìn)一步的檢查。 6、診斷測試 該測試不僅給出測試是否通過的信息，測試過程中的測試碼波形、響應(yīng)波形、各管腳的邏輯狀態(tài)、測試前的管腳電平、管腳的連接關(guān)系以及器件圖都能顯示出來，供您查閱。比較預(yù)期響應(yīng)和實(shí)際響應(yīng)的不同，可進(jìn)一步了解IC測試失敗的原因。 圖為74ls24的管腳電平和連接關(guān)系 7、IC循環(huán)測試（Loop Test） 該功能專為檢查因溫升造成的故障而設(shè)。有的IC開機(jī)運(yùn)行幾分鐘后，由于溫升而失效，當(dāng)停機(jī)后尋找故障時(shí)，溫度降低功能又恢復(fù)正常。這種故障使維修人員深感頭痛，循環(huán)測試功能有助于發(fā)現(xiàn)這種問題。 8、無型號(hào)IC識(shí)別 功能測試時(shí)必須鍵入被測IC的型號(hào)，但經(jīng)常有IC型號(hào)不清楚或故意擦掉的情況，使得測試工作無法進(jìn)行。本功能可迅速把無型號(hào)的IC的型號(hào)自動(dòng)查出來顯示在屏幕上。但這種查找必須是器件庫內(nèi)有的，并且功能必須完好。 9、離線測試 上述幾種測試功能均可在隨機(jī)的離線測試器上進(jìn)行。并且結(jié)果更準(zhǔn)確。可用器件篩選，或?qū)υ诰€測試有問題的器件做進(jìn)一步的確認(rèn)。 10、數(shù)字IC狀態(tài)測試 路板上每個(gè)數(shù)字器件，在加電后都有3種狀態(tài)特征：各管腳的邏輯狀態(tài)（電源、地、高阻、信號(hào)等）、管腳之間的連接關(guān)系、輸入輸出邏輯關(guān)系。當(dāng)器件損壞后，其狀態(tài)特征一般都要發(fā)生變化。測試儀能夠把好的電路板上各IC的狀態(tài)特征提取出來，存入微機(jī)的數(shù)據(jù)庫中，然后與同類有故障的電路板進(jìn)行比較，從而可相當(dāng)準(zhǔn)確的找到故障器件。這類學(xué)習(xí)的板越多，日后的工作越方便。 這種測試方法不僅適用于器件庫中已有的IC，也適用于庫中沒有的IC。是檢測各種專用器件、PAL、GAL、EPLD等可編程器件以及大規(guī)模集成電路強(qiáng)有力的手段。 11、VI曲線分析測試 本測試功能建立于模擬特征分析技術(shù)之上?？蓱?yīng)用于模擬、數(shù)字，各種專用器件、可編程器件以及大規(guī)模、超大規(guī)模器件。 使用測試儀進(jìn)行此項(xiàng)測試十分簡單。只需用探棒點(diǎn)到好板子上的元件管腳上，或者用測試夾夾在器件上，測試儀就能自動(dòng)把該結(jié)點(diǎn)的特征曲線提取出來，顯示在計(jì)算機(jī)屏幕上，最后存入計(jì)算機(jī)中。通過同樣簡單的操作，可以將庫中的曲線和新測到的曲線在屏幕上同時(shí)顯示出來。比較兩者之差異就能發(fā)現(xiàn)故障。 曲線在計(jì)算機(jī)中是以電路板為單位存放的。一個(gè)板一個(gè)文件，板上所有結(jié)點(diǎn)的曲線都放在該文件中，沒有容量限制。允許用軟盤拷貝出來。 該項(xiàng)測試一般要求在被測板不加電的情況下進(jìn)行檢測（只是注意板子上的電壓不能高于掃描電壓），這在很多情況下有助于進(jìn)一步確認(rèn)故障。 邏輯器件管腳節(jié)點(diǎn)處含有R、C、L元件，或者是模擬集成電路的故障，用IV曲線分析方法是很有效的。 VI曲線反映了節(jié)點(diǎn)處的阻抗特性，實(shí)際電路中的曲線形狀是多樣的，我們要熟悉典型元件的曲線形狀；如純電阻為直線，其斜率大，阻值小；純電容為一橢圓，橢圓的Y/X軸比例越大其容量也越大，以及我們常見的二極管、穩(wěn)壓管等不對(duì)稱非線性PN結(jié)特征曲線等等。實(shí)際電路中提取的VI曲線必是這些典型曲線的合成。所以根據(jù)實(shí)際電路節(jié)點(diǎn)的VI曲線幾何形狀，可大致推測出該節(jié)點(diǎn)是哪些元件組成的；反之也可推測出某些屬性節(jié)點(diǎn)提取的曲線的大概形狀。如果比預(yù)測形狀相差甚遠(yuǎn)，肯定有問題。 VI曲線分析還有另一個(gè)實(shí)用性：即當(dāng)電路板上芯片溫度異常過熱，為了避免擴(kuò)大故障范圍，不適于加電測試時(shí)，可改用VI曲線分析（不加電）逐個(gè)管腳檢查，能確切地定位故障點(diǎn)。 測試時(shí)需要注意的是當(dāng)元件阻值（或阻抗）過大（R>300K，C<500PF）、過?。≧<10，C>400uF）時(shí)，其曲線與開路、短路無法區(qū)分。VI曲線分析的這種局限性供您工作中參考。 12、全面存儲(chǔ)器測試 全面存儲(chǔ)器測試可對(duì)SRAM/DRAM，PROM/EPROM存儲(chǔ)器共1500余種； 進(jìn)行在線/離線、快速/完全測試，滿足不同測試需求。 對(duì)PROM/EPROM，將其中的內(nèi)容讀取出來，和以前電路板無故障時(shí)讀出并存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)中的內(nèi)容相比較，不一致則說明有問題。 DRAM/SRAM，在測試期間先寫入，再讀出。寫入內(nèi)容和讀出內(nèi)容不一致則說明有問題。 13、快速測試 其特點(diǎn)是測試速度很快，用于迅速檢測被測存儲(chǔ)器是否有故障。它不遍歷每個(gè)存儲(chǔ)單元，只按一定算法取部分存儲(chǔ)單元進(jìn)行測試。 14、完全測試 遍歷每個(gè)存儲(chǔ)單元，所以可把PROM/EPROM中的內(nèi)容全部讀出來，存成二進(jìn)制文件，供用戶復(fù)制或剖析。 15、離線測試 對(duì)未焊接在板子上的存儲(chǔ)器進(jìn)行測試，離線測試只有完全測試。 16、在線測試 對(duì)焊接在板子上的存儲(chǔ)器進(jìn)行測試。存儲(chǔ)器測試的特點(diǎn)是時(shí)間長。完全測試一個(gè)2K容量的存儲(chǔ)器，也比最復(fù)雜的邏輯器件所用時(shí)間長得多。所以在線測試支持快速測試和完全測試。并且對(duì)完全測試進(jìn)行了特殊處理，使得既能訪問到每一個(gè)存儲(chǔ)單元，有能保證測試安全。 存儲(chǔ)器往往都掛在總線上，要保證在線測試準(zhǔn)確，需用GUARD信號(hào)進(jìn)行總線隔離。測試存儲(chǔ)器所需要的時(shí)間與存儲(chǔ)容量成正比。對(duì)一個(gè)容量1K字節(jié)的讀寫存儲(chǔ)器進(jìn)行完全測試（即遍歷每一個(gè)存儲(chǔ)單元），至少需要4096個(gè)測試節(jié)拍。對(duì)容量為2K、4K、8K的存儲(chǔ)器，其測試時(shí)間分別是測1K存儲(chǔ)器的2倍，4倍，8倍。 　 17、LSI分析測試 LSI測試分析與中小規(guī)模IC的測試原理有很大差別，主要不同點(diǎn)在于：LSI內(nèi)部結(jié)構(gòu)與中小規(guī)模IC不同，其輸入輸出邏輯關(guān)系不能直接確定。一片LSI器件的功能一般都由許多子功能組成，如CPU器件就有取數(shù)、中斷、復(fù)位等，也往往有不同的使用方式，如8086就有大小模式之分。對(duì)LSI的測試就是對(duì)它的每一個(gè)子功能都用一段相應(yīng)的測試碼進(jìn)行測試，我們稱之為子測試，也就是說每個(gè)子測試只測一片LSI器件的一項(xiàng)子功能。通過好壞板上的子測試的比較情況來判斷被測LSI器件是否有故障。 測試分析LSI首先要離線學(xué)習(xí)，以得出參考文件，再離線測試，以得出被測LSI的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)備用，然后在線學(xué)習(xí)好的被測板上的相同的LSI數(shù)據(jù)存入硬盤供日后與故障板進(jìn)行比較。一片好的LSI器件，離線測試時(shí)應(yīng)通過全部子測試，但在線時(shí)由于實(shí)際使用方式的不同，有的子功能使用，有的子功能不使用。那么好的LSI器件在線學(xué)習(xí)時(shí)，對(duì)其不使用的子功能（或方式），在進(jìn)行子測試時(shí)，允許它不通過（失效）。因此這就要求先用一塊好電路板，通過學(xué)習(xí)其上的LSI器件，可確定通過了哪些子測試，哪些沒有通過并存入盤內(nèi)，供日后對(duì)相同的、有故障的電路板做對(duì)照比較測試。如果與當(dāng)時(shí)存入的那些子測試的通過情況不同，則表示該器件可能有問題。 　 18、電路網(wǎng)絡(luò)表提取及測試 A.全面電路網(wǎng)絡(luò)表提取 :為了得到被測電路板的電路圖，以便日后更好地開展維修工作，您往往希望得到被測電路板的電路圖。也許您（包括許多人）已經(jīng)用萬用表嘗試過此項(xiàng)工作，用測試儀的此項(xiàng)功能您會(huì)有重新體會(huì)。 所謂全面網(wǎng)絡(luò)表提取，是指測試儀提供三種操作模式，能夠處理各種元器件之間的連接關(guān)系的提取。 a） 測試夾 ―― 測試夾 :這種模式主要用來處理數(shù)字IC之間的網(wǎng)絡(luò)提取。用邏輯信號(hào)來檢查IC之間是否直接相連。提取速度快，工作效率高。 　 b） 測試夾 ―― 測試探棒:這種模式主要用來處理IC和分立元器件（包括一端是可使用測試夾的IC，一端是不能使用測試夾的IC）之間的連接關(guān)系。 c） 測試探棒 ―― 測試探棒:這種模式主要用來提取分立元件之間（包括不能使用測試夾的IC）的連接關(guān)系。 后兩種模式更多地涉及到模擬器件，所以用模擬信號(hào)來檢查元器件之間的連接關(guān)系。目前的測試儀在后兩種模式下，能夠識(shí)別約8歐姆以上電阻、3.2毫亨以上電感和400微法以下電容。 B.全面電路網(wǎng)絡(luò)測試 :目前的電路在線維修測試儀，其各種測試功能，都是用于檢查電路板上元器件的功能性故障的。對(duì)于電路板本身的故障，比如由于斷線或金屬化孔不通造成的開路故障；焊接或引線毛刺造成的短路故障則無能為力。由于這類故障往往不以元器件的功能異常表現(xiàn)出來，而是表現(xiàn)為電路板網(wǎng)絡(luò)表的改變，所以，利用從好的電路板上學(xué)習(xí)到的網(wǎng)絡(luò)表，去同相應(yīng)的故障板做對(duì)照檢查，就能發(fā)現(xiàn)電路板本身的開路/短路故障。 一般而言，在維修工作中，電路板的開/短路故障相對(duì)比較少見。而在電路板的生產(chǎn)調(diào)試中，絕大部分故障都是這種故障。所以，網(wǎng)絡(luò)測試功能不僅使得測試儀能夠更好地應(yīng)用于維修測試，而且使它能夠有效地用于小批量電子產(chǎn)品生產(chǎn)中的電路板故障檢測。 網(wǎng)絡(luò)測試的使用過程和提取基本一致。比較是否有錯(cuò)由計(jì)算機(jī)自動(dòng)完成，并將出錯(cuò)結(jié)果在屏幕上顯示出來。 完善的輔助測試功能使檢測更加可靠、準(zhǔn)確 ，真正的總線動(dòng)態(tài)隔離信號(hào)從在線測試角度看，有兩個(gè)以上的三態(tài)器件，其輸出并接在一起就構(gòu)成總線。測試期間的總線競爭是導(dǎo)致誤判的最常見原因之一。而靜態(tài)總線隔離信號(hào)是危及測試安全的常見情況。測試儀提供給您的是真正符合后驅(qū)動(dòng)要求的動(dòng)態(tài)隔離信號(hào)。只要簡單地將它引到造成競爭的IC的使能端，該信號(hào)將在測試瞬間將該IC從總線上隔離開，保證測試準(zhǔn)確。 19、測試夾接觸檢查 IC管腳氧化銹蝕、保護(hù)涂層未打磨干凈或測試夾未夾牢靠都會(huì)造成接觸問題。這是造成錯(cuò)誤測試結(jié)果的又一常見原因。測試儀會(huì)在測試前檢查接觸情況、發(fā)現(xiàn)問題將及時(shí)在屏幕上提示出來。 20、自動(dòng)加上拉電阻 測試儀可以識(shí)別集電極開路器件，在測試時(shí)加1K上拉電阻、無需另外費(fèi)心。 21、掉電監(jiān)測 這是一項(xiàng)十分重要、用戶需要十分關(guān)注的功能。瞬間掉電（電網(wǎng)上的強(qiáng)烈干擾，電源接插件晃動(dòng)等）往往發(fā)生于你毫無察覺的情況下。它會(huì)使測試儀電路狀態(tài)混亂，導(dǎo)致測試通道失控，從而危及被測板電路的安全。大多數(shù)情況下會(huì)造成器件特性軟化，工作壽命降低。但這種損壞，用戶往往當(dāng)時(shí)難以察覺。測試儀設(shè)有全面硬件掉電監(jiān)測，可在掉電恢復(fù)后，立即（毫秒級(jí)）將電路及測試通道置于預(yù)期狀態(tài)