四線電阻式觸摸屏線性度測(cè)試的研究
發(fā)布時(shí)間:2013/9/2 11:13:37
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【四線電阻式觸摸屏線性度測(cè)試的研究】
本文提出一種測(cè)試電阻式觸摸屏線性度的方法。該方法將接觸點(diǎn)的坐標(biāo)集合轉(zhuǎn)換到與之等價(jià)的電壓集合,簡(jiǎn)化測(cè)試流程,提高了測(cè)試精度。同時(shí),該方法首次提出糾偏算法,在一定程度上解決了觸摸屏測(cè)試時(shí)有偏移情況下的精度問(wèn)題,并對(duì)測(cè)試中的典型噪聲進(jìn)行分析并提出針對(duì)性的除噪方法。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該方法提高了測(cè)試速度和測(cè)試精度,可以滿足實(shí)際測(cè)試應(yīng)用。
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