要求：涂層厚度測量

客戶要求：

工件的圖片如圖，客戶需要測量鋪在工件上得硅膠片的厚度。工件是大型的工件，傳感器能安裝在支架上，在固定軌跡下測量工件的表面情況。

測量方案：

將激光測厚ZLDS102激光測距傳感器固定在支架上，先測量一下傳感器到工件（沒有硅膠）的距離，把這個距離設定為一個零點。然后傳感器在支架的帶動下，沿著工件的軌跡掃描測量。在測量到?jīng)]有硅膠的位置停止，并且發(fā)出報警信號。 傳感器可以實現(xiàn)實時測量。

激光測厚ZLDS102：0.02%高分辨率,0.1%高線性度,低成本。
提供了在計算機上運行附帶的傳感器軟件。該軟件提供簡單的數(shù)據(jù)讀取、顯示以及傳感器參數(shù)設置功能。
提供了一個傳感器開發(fā)庫(目前僅支持Windows)，以DLL形式提供，封裝底層串口通訊協(xié)議細節(jié)，提供簡單易用的編程接口，便于開發(fā)人員快速進行應用軟件的開發(fā)。

推薦型號：

ZLDS102-50-25-2k-232-U-IN-AL-CC-2

激光測厚的主要特點是在測量過程中，不需要測量出材料厚度的絕對尺寸，而只需知道測量厚度的相對值或者相對于一個標準值的厚度。

激光測厚工作原理：基本原理是光學三角法：半導體激光器①被鏡片②聚焦到被測物體⑥。反射光被鏡片③收集，投射到CMOS陣列④上；信號處理器⑤通過三角函數(shù)計算陣列④上的光點位置得到距物體的距離。

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