SBJDCS2853D介電常數(shù)測試儀 儀器介紹 SBJDCS2853D介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。 絕緣材料高頻介質(zhì)損耗測試裝置能對絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。 SBJDCS-2853D介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是一種基于串聯(lián)諧振原理工作的50kHz～160MHz高頻阻抗測量儀器，對電感器，電容器，絕緣材料等進(jìn)行高頻的有效電感，Q值，電容值和ε，tanδ及高頻電纜特性阻抗和衰減系數(shù)的測量。 1 特點(diǎn)： ◎ 本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值讀取技術(shù)，使測Q精度和速度大大提高。 ◎ Q值四位有效顯示，0.1Q分辨率。 ◎ DPLL合成發(fā)生測試信號，數(shù)字設(shè)置和連續(xù)調(diào)節(jié)信號頻率。 ◎ 調(diào)諧回路殘余電感8nH，保證高頻時(shí)直讀Q值的誤差較小。 ◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。 ◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。 ◎ 數(shù)字化Q值預(yù)置，能提高批量測試的可靠性和速度。 ◎ 獨(dú)立50kHz～160MHz信號源輸出口，所以本機(jī)又是一臺(tái)160MHz的合成信號源，頻率準(zhǔn)確度±50ppm，穩(wěn)定度±10ppm。 2 主要技術(shù)指標(biāo)： 2.1 工作頻率范圍： 50kHz～160MHz，五位有效數(shù)顯。 2.2 Q值測量范圍： 1～1000；分1～30，10～100，30～300，100～1000 四檔。分辨率0.1Q. 2.3 Q值固有誤差： ±5%±3% 滿刻度值。 2.4 有效電感測量范圍： 0.02µH～200mH。 2.5 電感測量誤差： ≤3%±0.01µH 2.6 調(diào)諧電容特性： 2.6.1可調(diào)電容范圍： 13pF～220 pF。 2.6.2 精確度： ±1% 或0.5pF。 2.6.3 電容量測量范圍： 1pF～200pF。 2.6.4 電容測量誤差： ±1%±0.5pF。 2.6.5 殘余電感值： 約8nH。 2.7 Q預(yù)置功能： 2.7.1Q預(yù)置范圍： 5～999均可。被測件達(dá)到預(yù)置值后有“GO”顯示和蜂鳴聲提示。不合格件則顯示“NO GO”。 2.8 外形尺寸及重量： 415×180×170（mm）,7kg