半導體 分立器件測試系統(tǒng)
型 號ZY-Drr
產(chǎn) 地陜西省 西安市
最小起訂
1臺
供貨總量
10臺
發(fā)布時間
2023-11-21
有效日期
還剩9332天
設備的擴展性強,通過選件可提高電流、電壓以及測試品種的范圍。支持電壓電流階梯升級至2000V,1250A。采用了脈沖測試法,脈沖寬度為美軍規(guī)定的300uS。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應結構的測試插座,自動補償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降,保證測試結果準確可靠。
系統(tǒng)概述
設備的擴展性強,通過選件可提高電流、電壓以及測試品種的范圍。支持電壓電流階梯升級至2000V,1250A。采用了脈沖測試法,脈沖寬度為美軍規(guī)定的300uS。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應結構的測試插座,自動補償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降,保證測試結果準確可靠。
基礎配置
技術參數(shù) | ENJ2005-A型 | ENJ2005-B型 |
主極電壓 | 10mV-2000V | 10mV-2000V |
主極電流 | 100nA-50A | 100nA-50A |
擴展電流 | 100A、200A、400A、500A | 250A、500A、750A、1000A、1250A |
電壓分辨率 | 1mV | 1mV |
電流分辨率 | 100nA | 10nA(可擴展至10pA) |
測試精度 | 0.5%+2LSB | 0.2%+2LSB |
測試速度 | 0.5mS/參數(shù)Parameter | 0.5mS/參數(shù)Parameter |
測試范圍
√ | √ | 測試器件 |
√ | √ | 二極管 / DIODE |
√ | √ | 絕緣柵雙極大功率晶體管 / IGBT |
√ | √ | 晶體管 / NPN型/PNP型 |
√ | √ | MOS場效應管 / MOS-FET |
√ | √ | J型場效應管 / J-FET |
√ | √ | 可控硅 / SCR |
√ | √ | 雙向可控硅 / TRIAC |
√ | √ | 達林頓列陣 / DRALINTON |
√ | √ | 光電耦合 / OPTO-COUPLER |
√ | √ | 穩(wěn)壓、齊納二極管 / ZENER |
√ | √ | 三端穩(wěn)壓器 / REGULATOR |
√ | √ | 雙向觸發(fā)二極管 / DIAC |
√ | 硅觸發(fā)可控硅 / STS | |
√ | 光電開關 / OPTO-SWITCH | |
√ | 光電邏輯 / OPTO-LOGIC | |
√ | 金屬氧化物壓變電阻 / MOV | |
√ | 固態(tài)過壓保護器 / SSOVP | |
√ | 壓變電阻 / VARISTOR | |
√ | 繼電器 / RELAY |
測試參數(shù)
漏電參數(shù):IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)
擊穿參數(shù):BVCEO BVCES(300uS Pulse above 10mA)BVDSS、VD、BVCBO、VDRM、VRRM VBB、BVR、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO
增益參數(shù):hFE、CTR、gFS
導通參數(shù):VCESAT、SAT、VBEON、VF、VT、VT+、VT-、VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDON、Notch=IGT1、IGT4、ICON、VGEON、VO(Regulator)、IIN(Regulator)
混合參數(shù):Rdson、Gfs、Input Regulation、Output Regulation
關斷參數(shù):VGSOFF
觸發(fā)參數(shù):IGT、VGT
保持參數(shù):IH、IH+、IH-
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企業(yè)詳細信息
普通會員
廠商性質
系統(tǒng)集成商
所在地
陜西省
聯(lián)系人
張芳
地址:西安市灃東新城中興深藍科技產(chǎn)業(yè)園
電話:15319792496
傳真:
網(wǎng)址:http://
主營產(chǎn)品:靜態(tài)參數(shù),動態(tài)參數(shù)(開通關斷/反向恢復/短路/安全工作區(qū))測試 等);雪崩能力測試,老化及可靠性。 參數(shù)測試設備: 靜態(tài)參數(shù);動態(tài)參數(shù)(開通關斷/反向恢復/短路/安全工作區(qū))測試等);老化及可靠性 二
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